N. Sakai: "High-Resolution Compton Profile of Si Using 29.5keV Synchrotron-Radiation X-Rays" J. Phys. Soc. Jpn., 58, 3270-3279, 1989.
N. Sakai: "High-Resolution Compton Profile of Si Using 29.5keV Synchrotron-Radiation X-Rays" J. Phys. Soc. Jpn., 58, 3270-3279, 1989.
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N. Sakai：“使用 29.5keV 同步辐射 X 射线获得硅的高分辨率康普顿剖面”J. Phys。
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