Characterization of TEM Moire Patterns Originating from Two Monolayer Graphenes Grown on the Front and Back Sides of a Copper Substrate Using the CVD method
Characterization of TEM Moire Patterns Originating from Two Monolayer Graphenes Grown on the Front and Back Sides of a Copper Substrate Using the CVD method
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使用 CVD 方法在铜基板正面和背面生长的两个单层石墨烯产生的 TEM 莫尔图案的表征
DOI：
10.7566/jpsj.87.061011
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Gohara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Yamazaki;Yosuke Maehara;K. Gohara
