走査電子顕微鏡内における絶縁体薄膜の表面電位測定
走査電子顕微鏡内における絶縁体薄膜の表面電位測定
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使用扫描电子显微镜测量绝缘体薄膜的表面电位
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小寺正敏
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Akio Suzuki;Takayuki Mori;Atsuhiko Fukuyama;Tetsuo Ikari;Ji-Hyun Paek;Masahito Yamaguchi;小寺正敏
