Electronic structure of topological insulator Bi2Se3 ultrathin films on a Sisurface
Electronic structure of topological insulator Bi2Se3 ultrathin films on a Sisurface
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Sisurface上拓扑绝缘体Bi2Se3超薄膜的电子结构
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Komorida.S_ Kimura_ A_
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Sakamoto;T.Hirahara;H.Miyazaki;Y.Takeichi;T.Komorida.S_ Kimura_ A_
