透過電子顕微鏡（TEM,STEM）と3次元アトムプローブ（APT）観察を同一箇所に用いた材料分析
透過電子顕微鏡（TEM,STEM）と3次元アトムプローブ（APT）観察を同一箇所に用いた材料分析
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使用透射电子显微镜（TEM、STEM）和三维原子探针（APT）在同一位置观察进行材料分析
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
井上耕治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岩城麻子;森川信之;前田宜浩;藤原広行;井上耕治;井上耕治
