Fault masking issue on a dependable processor using BIST under highly electromagnetic environment
Fault masking issue on a dependable processor using BIST under highly electromagnetic environment
复制标题
在强电磁环境下使用 BIST 的可靠处理器的故障屏蔽问题
DOI：
10.1504/ijcse.2017.084681
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发表时间：
2017
影响因子：
2
通讯作者：
Masayuki Arai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Aromhack Saysanasongkham;Satoshi Fukumoto;Masayuki Arai
