Molecular depth profiling and imaging technique with energetic cluster ion beams
Molecular depth profiling and imaging technique with energetic cluster ion beams
复制标题
高能簇离子束分子深度分析和成像技术
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Matsuo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Suzuki;K. Kudo;K. Kojima;T. Yasue;N. Akutsu;W.A. Diño;H. Kasai;E. Bauer;T. Koshikawa;八代圭司;斎藤 慎彦;J. Matsuo
