二枚のスペックルパターンのみを用いた高分解能スペックル干渉計測法
二枚のスペックルパターンのみを用いた高分解能スペックル干渉計測法
复制标题
仅使用两种散斑图案的高分辨率散斑干涉测量
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
横関俊介
中科院分区：
文献类型：
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作者：
新井泰彦; 田原樹; 横関俊介
