Exciton quenching by accumulated holes OLEDs and its effect on the device efficiency
Exciton quenching by accumulated holes OLEDs and its effect on the device efficiency
复制标题
累积空穴OLED的激子猝灭及其对器件效率的影响
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideyuki Murata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Daisuke Kato;Hideyuki Murata
