ケモメトリックスを用いた高分子多層薄膜断面の赤外イメージング解析
ケモメトリックスを用いた高分子多層薄膜断面の赤外イメージング解析
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使用化学计量学对聚合物多层薄膜横截面进行红外成像分析
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷川健
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂部輝御;山崎悟;長谷川健
