Built-In Functional Testing of Analog In-Memory Accelerators for Deep Neural Networks
Built-In Functional Testing of Analog In-Memory Accelerators for Deep Neural Networks
复制标题
深度神经网络模拟内存加速器的内置功能测试
DOI：
10.3390/electronics11162592
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
2.9
通讯作者：
Kandasamy, Nagarajan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Mishra , Abhishek Kumar;Das, Anup Kumar;Kandasamy, Nagarajan
