伊達和博,田幡幸大: "光弾性画像合成法による半導体の欠陥と内部応力の評価" 応力・ひずみ測定シンポジウム. (1991)
伊達和博,田幡幸大: "光弾性画像合成法による半導体の欠陥と内部応力の評価" 応力・ひずみ測定シンポジウム. (1991)
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Kazuhiro Date、Kouhiro Tabata：“使用光弹性图像合成评估半导体缺陷和内部应力”应力和应变测量研讨会（1991 年）。
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