A universal equation for computing the beam broadening of incident electrons in thin films.
A universal equation for computing the beam broadening of incident electrons in thin films.
复制标题
用于计算薄膜中入射电子束展宽的通用方程。
DOI：
10.1016/j.ultramic.2016.04.007
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
S. Rudinsky
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Gauvin;S. Rudinsky
