235mUの壊変過程の解明を目指した低エネルギー内部転換電子分光測定
235mUの壊変過程の解明を目指した低エネルギー内部転換電子分光測定
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低能内转换电子能谱旨在阐明235mU的衰变过程
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
篠原厚
中科院分区：
文献类型：
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作者：
重河優大;笠松良崇;安田勇輝;篠原厚
