軟X線回折顕微鏡を用いた磁気ドメイン観測
軟X線回折顕微鏡を用いた磁気ドメイン観測
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使用软X射线衍射显微镜进行磁畴观察
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
石井祐太
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yabukami S.;Nozawa K.;Tonthat L.;Okita K.;Sai R.;石井祐太
