The parameterless correction method in X-ray microanalysis
The parameterless correction method in X-ray microanalysis
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X射线微量分析中的无参数校正方法
DOI：
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发表时间：
1990
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. V. Cappellen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. V. Cappellen
