AES回路から漏洩するサイドチャネル波形のSNR測定法～バイト毎のラウンド鍵解読への適用～
AES回路から漏洩するサイドチャネル波形のSNR測定法～バイト毎のラウンド鍵解読への適用～
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AES电路泄漏的旁路波形的SNR测量方法~在逐字节轮密钥解码中的应用~
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
手嶋俊彰，五百旗頭健吾，豊田啓孝，矢野佑典
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kengo Iokibe;Toshiaki Teshima;Yusuke Yano;and Yoshitaka Toyota;手嶋俊彰，五百旗頭健吾，豊田啓孝，矢野佑典
