Depth-resolution imaging of crystalline nanoclusters attached on and embedded in amorphous films using aberration-corrected TEM
Depth-resolution imaging of crystalline nanoclusters attached on and embedded in amorphous films using aberration-corrected TEM
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使用像差校正 TEM 对附着和嵌入非晶薄膜中的晶体纳米团簇进行深度分辨率成像
DOI：
10.1016/j.ultramic.2014.11.005
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
N. Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Yamasaki;M. Mori;Masayuki;A. Hirata;Y. Hirotsu;N. Tanaka
