Film thickness determination using ultrashort terahertz pulses
Film thickness determination using ultrashort terahertz pulses
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使用超短太赫兹脉冲测定薄膜厚度
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Takeya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Kawase;K. Okimura;Y.Nishizawa;K.Takeya
