CNT上に電気化学的に析出させたSiの表面分析とその性能評価
CNT上に電気化学的に析出させたSiの表面分析とその性能評価
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CNT上电化学沉积Si的表面分析及其性能评价
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
孔山勇貴，槿優衣，大塚由佳，藪野なつみ，柿原俊太，田巻義規，友野和哲
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kazuaki Tomono;Taiga Kumamoto;Shyun Kikuchi;Takayoshi Ogoma;Yuki Kouyama;Yoshinori Tamaki;熊本大河，小後摩貴由，友野和哲;熊本大河，下村和優，小後摩貴由，友野和哲;熊本大河，小後摩貴由，山脇嵩，友野和哲;友野 和哲・小後摩 貴由・山脇 嵩・孔山 勇貴・柿原 俊太・田巻 義規;小後摩 貴由・友野 和哲;孔山勇貴，槿優衣，大塚由佳，藪野なつみ，柿原俊太，田巻義規，友野和哲
