In-vacuum measurements of optical scatter versus annealing temperature for amorphous Ta 2 O 5 and TiO 2 :Ta 2 O 5 thin films
In-vacuum measurements of optical scatter versus annealing temperature for amorphous Ta 2 O 5 and TiO 2 :Ta 2 O 5 thin films
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非晶态 Ta 2 O 5 和 TiO 2 :Ta 2 O 5 薄膜的光学散射与退火温度的真空测量
DOI：
10.1364/josaa.415665
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Smith, Joshua R.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Capote, Elenna M.;Gleckl, Amy;Guerrero, Jazlyn;Rezac, Michael;Wright, Robert;Smith, Joshua R.
