S.takeda: "Structure analysis of defects in nanometer space inside a crystal creation and agglomeration of point defects in Si and Ge revealedby high-resolution electron microscopy" Microscopy Research and Technique. 40. 313-335 (1998)
S.takeda: "Structure analysis of defects in nanometer space inside a crystal creation and agglomeration of point defects in Si and Ge revealedby high-resolution electron microscopy" Microscopy Research and Technique. 40. 313-335 (1998)
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S.takeda：“通过高分辨率电子显微镜揭示了晶体生成中纳米空间缺陷的结构分析以及硅和锗中点缺陷的聚集”显微镜研究和技术。
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