Y.Mitsuya, K.Nakayama, S.Okugawa, E.Nakai: "Head-to-Disk Spacing Measurements in Contact Regime Using Michelson Laser Interferometry Enhanced by Active Sensing and Image Processing"Proc.of Symp.On Interface Technology Towards 100 Gbit/in2. Vol.9. 67-73 (1
Y.Mitsuya, K.Nakayama, S.Okugawa, E.Nakai: "Head-to-Disk Spacing Measurements in Contact Regime Using Michelson Laser Interferometry Enhanced by Active Sensing and Image Processing"Proc.of Symp.On Interface Technology Towards 100 Gbit/in2. Vol.9. 67-73 (1
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Y.Mitsuya、K.Nakayama、S.Okukawa、E.Nakai：“利用主动传感和图像处理增强的迈克尔逊激光干涉测量法在接触状态下进行磁头到磁盘间距测量”Proc.of Symp.On 面向 100 Gbit 的接口技术
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