Masashi Ishii: "X-ray Absorption Fine Structure Measurement Using Scanning Capacitance Microscope : Trial for Selective Observation of Trap Centers in 〜nm Region"Japanese Journal of Appliecd Physics. (in press). (2002)
Masashi Ishii: "X-ray Absorption Fine Structure Measurement Using Scanning Capacitance Microscope : Trial for Selective Observation of Trap Centers in 〜nm Region"Japanese Journal of Appliecd Physics. (in press). (2002)
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Masashi Ishii：“使用扫描电容显微镜进行 X 射线吸收精细结构测量：〜nm 区域中陷阱中心的选择性观察”日本应用物理学杂志（2002 年出版）。
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