Evaluating the Security of Logic-Locked Probabilistic Circuits
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复制标题
评估逻辑锁定概率电路的安全性
DOI：
10.1109/tcad.2021.3104270
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发表时间：
2021
影响因子：
2.9
通讯作者：
Srivastava, Ankur
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zuzak, Michael;Mondal, Ankit;Srivastava, Ankur
