Zhiqiang You: "On the non-scan BIST schemes under power constraints for RTL data paths"Digest of Papers IEEE 4th Workshop on RTL and High Level Testing. 14-21 (2003)
Zhiqiang You: "On the non-scan BIST schemes under power constraints for RTL data paths"Digest of Papers IEEE 4th Workshop on RTL and High Level Testing. 14-21 (2003)
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尤志强：“关于 RTL 数据路径功率约束下的非扫描 BIST 方案”论文摘要 IEEE 第四届 RTL 和高级测试研讨会。
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