Half-life of Si-32 from tandem-accelerator mass spectrometry
Half-life of Si-32 from tandem-accelerator mass spectrometry
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DOI：
10.1103/physrevlett.45.589
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发表时间：
1980-08
影响因子：
8.6
通讯作者：
D. Elmore;N. Anantaraman;H. W. Fulbright;H. Gove;K. Nishiizumi;M. Murrell;M. Honda;H. S. Hans
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Elmore;N. Anantaraman;H. W. Fulbright;H. Gove;K. Nishiizumi;M. Murrell;M. Honda;H. S. Hans
在新的加速器质谱技术首次应用于核物理问题中，$^{32}\mathrm{Si}$的半衰期被确定为108\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}18年。这一结果与公认的330\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}40 yr值不一致，但由于使用了$^{32}\mathrm{Si}$进行测年研究，因此具有特殊意义。
In one of the first applications of the new accelerator mass-spectrometry technique to nuclear physics problems, the half-life of $^{32}\mathrm{Si}$ has been determined to be 108\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}18 yr. This result, which disagrees with the accepted value of 330\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}40 yr, has special significance because of the use of $^{32}\mathrm{Si}$ for dating studies.