Direct Evaluation of Functional Devices by Operando Transmission Electron Microscopy
Direct Evaluation of Functional Devices by Operando Transmission Electron Microscopy
复制标题
通过操作透射电子显微镜直接评估功能器件
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tsukasa Hirayama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kazuo Yamamoto;Yuki Nomura;Satoshi Anada;Tsukasa Hirayama
