森山裕丈陽電子寿命測定による30MeV電子線照射後セラミックスの欠陥導入状態評価
森山裕丈陽電子寿命測定による30MeV電子線照射後セラミックスの欠陥導入状態評価
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通过森山博武正电子寿命测量评估 30 MeV 电子束照射后陶瓷中的缺陷引入状态
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐藤紘一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
秋吉優史;高木郁二;土田秀次;義家敏正;徐〓;佐藤紘一
