メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成
メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成
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用于内存邻接模式相关故障测试的后台列生成
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
井上美智子
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上岡真也;米田友和;大和勇太;井上美智子
