K.Miura: "Development of an EB/FIB integrated test system"Proc.12th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Phvsics and Analsis. 1489-1494 (2001)
K.Miura: "Development of an EB/FIB integrated test system"Proc.12th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Phvsics and Analsis. 1489-1494 (2001)
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K.Miura：“EB/FIB 集成测试系统的开发”Proc.12th 欧洲电子器件可靠性研讨会、故障物理学和分析。
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