Si(551)表面のW-RHEEDとSTMによる構造解析
Si(551)表面のW-RHEEDとSTMによる構造解析
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利用 W-RHEED 和 STM 对 Si(551) 表面进行结构分析
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
黒田 理人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
内藤 完;中塚 聡平;小川 修一;虻川 匡司;江口 豊明;服部 賢;服部 梓;黒田 理人
