T.Inoue, Y.Yamamoto and M.Satoh: "Facet Morphology Analysis of Epitaxial CeO_2 Layrs on Si Substrates" Proc.14th Symp.Mat.Sci.& Eng., Hosei Univ., Tokyo. 135-140 (1995)
T.Inoue, Y.Yamamoto and M.Satoh: "Facet Morphology Analysis of Epitaxial CeO_2 Layrs on Si Substrates" Proc.14th Symp.Mat.Sci.& Eng., Hosei Univ., Tokyo. 135-140 (1995)
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T.Inoue、Y.Yamamoto 和 M.Satoh：“Si 衬底上外延 CeO_2 层的面形态分析”Proc.14th Symp.Mat.Sci。
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