Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis.
Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis.
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反射器辅助 TXRF 分析中反射器和样品载体之间出现的 X 射线的表征。
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Nagamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Tetsuoka;T.Nagamura
