ストレスマイグレーションによるアルミナノワイヤの作製及び電気特性の評価に関する研究
ストレスマイグレーションによるアルミナノワイヤの作製及び電気特性の評価に関する研究
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应力迁移制备铝纳米线及电性能评价研究
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小島直樹，巨 陽
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kenji Fukuzawa;Qingqing Liu;Takumi Tarukado;Yosuke Kajihara;Ryota Watanabe;Shintaro Itoh;Hedong Zhang;宝珍 善伸;T.Murakami and E.Ohmura;小島直樹，巨 陽
