XFELによる強磁場X線吸収分光装置の開発とEu(Rh0.7Ir0.3)2Si2の磁場誘起価数転移への応用
XFELによる強磁場X線吸収分光装置の開発とEu(Rh0.7Ir0.3)2Si2の磁場誘起価数転移への応用
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XFEL强磁场X射线吸收光谱仪的研制及其在磁场诱导Eu(Rh0.7Ir0.3)2Si2价态跃迁中的应用
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
和田裕文
中科院分区：
文献类型：
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作者：
安村光正;野尻浩之;松澤智;Jun-Sik Lee;Diling Zhu;光田暁弘;和田裕文
