Identification of Thin Films Young's Modulus from Continuous Indentation Test and Inverse Analysis
Identification of Thin Films Young's Modulus from Continuous Indentation Test and Inverse Analysis
复制标题
连续压痕试验和反演分析识别薄膜杨氏模量
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Andrei Constantinescu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Joris Prou;Kikuo Kishimoto;Andrei Constantinescu
