Quantitative analysis of carrier recombination property at grain boundaries in multicrystalline silicon using micro-image of electroluminescence
Quantitative analysis of carrier recombination property at grain boundaries in multicrystalline silicon using micro-image of electroluminescence
复制标题
利用电致发光显微图像定量分析多晶硅晶界载流子复合特性
DOI：
--
复制
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Ichiro Yonenaga
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kentaro Kutsukake;Naoto Miyazaki;Takashi Sameshima;Tomihisa Tachibana;Atsushi Ogura;Yuki Tokumoto;Yutaka Ohno;Noritaka Usami;Ichiro Yonenaga
