Piezocapacitande Effects on Depletion Charge Capacitanceof Metal-Oxide-Siicon
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复制标题
压电电容对金属氧化物硅耗尽电荷电容的影响
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Matsuda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Uyama,T,Kunimoro,K.Takakura;K.Matsuda
