Nanoscale Mapping of Semi-Crystalline Polypropylene
Nanoscale Mapping of Semi-Crystalline Polypropylene
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半结晶聚丙烯的纳米级测绘
DOI：
10.1002/pssc.201700153
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Abrams K
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Abrams K
我们揭示了半结晶聚丙烯的纳米级信息与使用一种新的二次电子高光谱成像技术。低温扫描电镜和低电压的创新组合可以优化这些光束敏感材料的成像。通过收集二次电子高光谱成像数据，可以在扫描电子显微镜（SEM）中实现纳米尺度上的分子有序映射。
We reveal nanoscale information of semi‐crystalline polypropylene with the use of a new secondary electron hyperspectral imaging technique. The innovative combination of cryo‐SEM and low voltage allows for the optimized imaging of these beam‐sensitive materials. Through the collection of secondary electron hyperspectral imaging data, mapping of molecular order on the nano‐scale in the scanning electron microscope (SEM) can be achieved.