マイクロ要素界面端からの剥離き裂発生強度評価(界面端形状の影響評価)
マイクロ要素界面端からの剥離き裂発生強度評価(界面端形状の影響評価)
复制标题
从微元界面边缘评估剥离裂纹萌生强度（评估界面边缘形状的影响）
DOI：
--
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
相原寿哉，高橋可昌，宅間正則，齋藤賢一，佐藤知広
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Takahashi;S. Arai;Y. Yamamoto;K. Higuchi;H. Kondo;Y. Kitagawa;S. Muto;N. Tanaka;相原寿哉，高橋可昌，宅間正則，齋藤賢一，佐藤知広
