Photo-double ionization of argon at 20 and 40 eV excess energy
Photo-double ionization of argon at 20 and 40 eV excess energy
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氩在 20 和 40 eV 过剩能量下的光电双电离
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
L. Avaldi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Bolognesi;M. Zitnik;L. Malegat;P. Selles;G. Turri;M. Coreno;R. Camilloni;L. Avaldi
我们已经测量了三重微分截面的Ar 2 + 3 p4（3 Pe）状态在20和40 eV的过剩能量在相等和不相等的能量共享条件下，分别。本文的结果和以前在相同条件下测得的He 2+（1 Se）态的数据已由Malegat等给出的三重微分截面的精确参数化表示（1997 J. Phys. B：At.摩尔光学物理学30 251; 2002物理学杂志B：At.摩尔35 5169）。
We have measured the triple differential cross section of the Ar2+3p4(3Pe) state at 20 and 40 eV excess energy in equal and unequal energy sharing conditions, respectively. The present results and previous data of the He2+(1Se) state measured in the same conditions have been represented by an exact parametrization of the triple differential cross section given by Malegat et al (1997 J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 30 251; 2002 J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 35 5169).