擬ポテンシャルコードを用いたタイプII構造Snクラスレート半導体の構造評価
擬ポテンシャルコードを用いたタイプII構造Snクラスレート半導体の構造評価
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使用赝势代码评估 II 型 Sn 包合物半导体的结构
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
山本節夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
藤田遼;赤井光治;岸本堅剛; 小柳剛;栗巣普揮;山本節夫
