その場電子顕微鏡法による金ナノ接点の臨界剪断応力解析
その場電子顕微鏡法による金ナノ接点の臨界剪断応力解析
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使用原位电子显微镜分析金纳米触点的临界剪切应力
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
木塚徳志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
飯嶋俊章;大古喬之;増田秀樹;木塚徳志
