Kohji Mizoguchi et al.: "Characterization of thermally annealed thin silicon films on insulators by Raman image measurement" Journal of Applied Physics. 78. 3357-3361 (1995)
Kohji Mizoguchi et al.: "Characterization of thermally annealed thin silicon films on insulators by Raman image measurement" Journal of Applied Physics. 78. 3357-3361 (1995)
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Kohji Mizoguchi 等人：“通过拉曼图像测量对绝缘体上热退火硅薄膜进行表征”应用物理学杂志。
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