Scanning tunneling microscopy combined with hard x-ray microbeam of high brilliance from synchrotron radiation source
Scanning tunneling microscopy combined with hard x-ray microbeam of high brilliance from synchrotron radiation source
复制标题
扫描隧道显微镜与同步辐射源高亮度硬X射线微束相结合
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.Saito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
立川 悠;ほか;保立和夫;A.Saito
Fe(001)表面杂质的扫描隧道光谱
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
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作者：
N. Papanikolaou;B. Nonas;S. Heinze;R. Zeller;P. Dederichs
通讯作者：
P. Dederichs
通过 STM 对绝缘体进行化学成像
影响因子：
3.7
作者：
J. Viernow;D. Petrovykh;A. Kirakosian;J.;F. Men;M. Henzler;F. Himpsel
通讯作者：
F. Himpsel