H.Tomiye: "Investigation of charge trapping in a SiO_2/Si System with a scanning capacitance microscope" Jpn.J.Appl.Phys.37 Pt.1. 3812-3815 (1998)
H.Tomiye: "Investigation of charge trapping in a SiO_2/Si System with a scanning capacitance microscope" Jpn.J.Appl.Phys.37 Pt.1. 3812-3815 (1998)
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H.Tomiye：“用扫描电容显微镜研究 SiO_2/Si 系统中的电荷捕获”Jpn.J.Appl.Phys.37 Pt.1。
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