Time-of-flight photoelectron emission microscopy TOF-PEEM: first results
Time-of-flight photoelectron emission microscopy TOF-PEEM: first results
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飞行时间光电子发射显微镜 TOF-PEEM：初步结果
DOI：
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发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G. Schönhense
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Spiecker;O. Schmidt;C. Ziethen;D. Menke;U. Kleineberg;R. Ahuja;M. Merkel;U. Heinzmann;G. Schönhense
