光線追跡法による液晶マイクロレンズの光偏向特性の解析

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光线追迹法分析液晶微透镜光学偏转特性

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
手塚大貴,田中将樹,中村剣登,河村希典,佐藤進
手塚大貴,田中将樹,中村剣登,河村希典,佐藤進
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
S. Hayashi;K. Nawata;T. Taira;J. Shikata;K. Kawase;and H. Minamide;手塚大貴,田中将樹,中村剣登,河村希典,佐藤進

文献摘要

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