Interface states of SiO2/Si(111) observed by an atomic force microscope
Interface states of SiO2/Si(111) observed by an atomic force microscope
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原子力显微镜观察SiO2/Si(111)界面态
DOI：
10.1016/s0039-6028(99)01023-7
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
K. Miki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Hasunuma;Y. Nishioka;A. Ando;K. Miki
